圖像測量是檢測和發送被測物體信息的測量方法。 目的是在圖像分析識別的基礎上，從圖像中提取有用信號並對其進行測量。 圖像測量儀是基於光耦合器上成像的光學成像系統（稱為成像系統）。 通過光耦合器設備採集，軟件處理，顯示在計算機屏幕上，利用測量軟件進行幾何計算，得到最終的Z結果。 非接觸式測量儀器。 測量軟件通過數字圖像處理技術提取工件表面的坐標點，再利用坐標變換和數據處理技術將其轉換為坐標測量空間中的各種幾何元素，從而用圖像測量儀獲得幾何尺寸、幾何公差等參數。
圖像測量儀的發展概況
20世紀70年代末，特別是David Marr教授建立計算視覺理論框架以來，圖像處理技術和圖像傳感器得到了迅速發展。 隨着坐標測量技術的發展和成熟，以光學比較為基礎的光學測量領域坐標測量方法的發展和應用也取得了進一步的實質性進展。
1977年，美國View工程公司發明了世界上第一台電機驅動XYZ軸的RB-1圖像測量系統。 它是一種自動圖像測量儀，將視頻檢測和軟件測量集成在一個控制終端中。 此外，Mechanical Technology的Boice Vista系統利用了CMM的優勢，在CMM測頭上集成了視頻圖像測量系統，該系統將測量數據與預編程的標稱尺寸和公差相結合。 比較。 兩台儀器以不同的方式借用了三坐標測量機的坐標測量原理，將被測物體的圖像投影到坐標系中。 其測量平台繼承了三坐標測量機的形式，但測頭類似於光學投影儀。 龍門式圖像測量儀這些儀器的出現開闢了一個重要的測量儀器行業——圖像測量儀行業。 20世紀80年代初，圖像測量技術有了重要的發展。 1981年，ROI開發了一種光學圖像測頭，它可以代替CMM上的接觸式測頭進行非接觸式測量。 從此，這種光學配件成為成像設備的基本部件之一。 20世紀80年代中期，市面上出現了帶有高倍顯微鏡目鏡的圖像測量儀。
20世紀90年代，隨着CCD技術、計算機技術、數字圖像處理技術、LED照明技術和DC/AC伺服驅動技術的發展，圖像測量儀產品得到了長足的發展。 越來越多的廠商進入影像測量儀市場，共同推動影像測量儀的發展。
