產品尺寸公差測量基礎第三部分半自動影像測量儀公差

基本偏差用於確定公差區相對於零線的位置。 不同的公差區位置和參考零件形成不同的配合。 基本偏差的數量決定了協調類型的數量。 國家標準規定了孔和軸的28種基本偏差,每種偏差用拉丁字母表示。 孔用大寫字母表示,龍門成像測量儀的軸用小寫字母表示。 它們形成了一個基本的偏差序列。



一。 在軸的基本偏差中,A~g的基本偏差為上偏差,而在孔的基本偏差中,A~g的基本偏差為下偏差,絕對值依次減小;



2.H軸與h孔的基本偏差為零;



III.軸JS與孔JS的基本偏差相對於零線對稱;



一般情況下,A~h與基準孔形成間隙配合,其中A、B、C用於大間隙配合,D、e、F主要用於一般潤滑條件下的旋轉運動。 J~N與基準孔形成過渡配合,P~ZC與基準孔形成過盈配合。



基本偏差序列圖只顯示公差帶的一端,因此任一公差帶的代碼均由基本偏差代碼和公差等級號組合表示。



了解孔軸線的基本偏差關係,可以深入考慮設計中擬合精度的確定方法。 根據配合公差之間的關係確定孔軸線的尺寸公差。



影像測量儀的激光選項可提供高精度單點聚焦和表面掃描功能,低能量可見光二極管激光,發射光源到零件表面,接收反射光源獲取數據。 手動圖像測量儀通過激光掃描零件表面來獲得高分辨率的表面輪廓。



用於圖像測量儀器的可選激光傳感器包括QVTTL(同軸激光透鏡)或離軸DRS激光器。 在不同的模型上已經配置了不同的模型,適用於不同的零件表面,如漫反射或鏡面,以及零件表面的傾斜度。 用於圖像測量儀的QVI離軸DRS激光器雖然偏離儀器的透鏡中心,但校準后可同軸適用,可通過程序控制。 龍門式影像測量儀使用方便



單點觸發探頭使OGP智能示波器圖像測量儀器更加多樣化。 2.5維測量儀接觸式探頭可用於測量圖像無法觸及的特徵或表面邊界。



探針測量可以是水平拉伸試驗機measurement-x或measuremin3D圖像測量儀測量過程中的一個步驟。 QVI拉力試驗機的圖像同軸校準獨特探頭確保所有傳感器都在參考坐標系中,可以用任何傳感器靈活測量。



通過基準球和軟件的標定,可以保證串聯測頭的測量精度。 探頭、可拆卸模塊、探頭支架和探頭可從QVI購買或由客戶自行提供。 可以在smartscope vantagetm、smartscope flashtm、smartscope ziptm和smartscope atstm系統中配置觸發檢測器。 所有探針都可以在軟件控制下收集、存儲和縮放。 根據QVI影像測量儀配置探頭的工作原理和工作方式

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